Noncontact Measuring Methods of Experimental Mechanics

D02BEM_EN

JAZYK VÝUKY

Angličtina

POČET KREDITŮ

  

TYP PŘEDMĚTU

Volitelný

ZAKONČENÍ

Zkouška

ROZSAH

2P

SEMESTR

  

OBOR

FMI

GARANT PŘEDMĚTU

PŘEDNÁŠEJÍCÍ

CVIČÍCÍ

  

JAZYK VÝUKY

POČET KREDITŮ

TYP PŘEDMĚT

ZAKONČENÍ

ROZSAH

SEMESTR

OBOR

GARANT PŘEDMĚTU

PŘEDNÁŠEJÍCÍ

CVIČÍCÍ

Angličtina

  

Volitelný

Zkouška

2P

  

FMI  

  

NÁPLŇ PŘEDMĚTU

Anotace

Noncontact optical and electronic methods for measurement of macrotopography and microtopography of surfaces. Optical methods of deformation and displacement measurement. Noncontact vibration measurements and measurements of velocity and flow using optolelectronic techniques.

Osnova přednášek

1. Methods of generation and detection of physical fields.

2. Methods of optical microscopy

3. Modern interferometric methods

4. Optical deflectometry. Scattering methods – BRDF, TIS

5. AFM, electron microscopy methods – SEM, TEM

6. Moiré methods

7. Holographic interferometry

8. Speckle interferometry, ESPI

9. Digital photoelasticity. Correlation methods – DIC.

10. Triangulation methods. Photogrammetry.

11. Projection methods.

12. Optical coherence tomography.

13. Doppler laser vibrometry and anemometry.

Osnova cvičení

The course has no exercises.

Cíle studia

The aim of the course is to provide students with knowledge in the field of non-contact methods of measuring macro and microtopography of surfaces, methods of measuring deformation, stress, displacement, distance, vibration and velocity that can be applied in the field of experimental mechanics, physical and material engineering.

POŽADAVKY

None.

DOPORUČENÁ LITERATURA

[1] W.N.Sharpe: Springer Handbook of Experimental Solid Mechanics, Springer 2008.

[2] C.M.Tropea: Springer Handbook of Experimental Solid Mechanics, Springer 2007.

[3] T. Yoshizawa: Handbook of Optical Metrology: Principles and Applications, CRC Press; 2009.

[4] G.Cloud: Optical Methods of Engineering Analysis. Cambridge University Press, 1998.

[5] J.Goldstein: Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalysis. Springer; 3rd ed. Berlin 2003.

[6] W.Zhou, Z.L.Wang: Scanning Microscopy for Nanotechnology: Techniques and Applications, Springer, Berlin 2006.

VZTAHY

Scroll to Top